Analiz

Mikroyapı Analizi

MİKROYAPI ANALİZİ

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Mikroanaliz (EDX-WDX) ve Faz Tayini (EBSD)

Elektron mikroskobu laboratuvarında üç adet taramalı elektron mikroskobu bulunmaktadır. Bu mikroskoplar, ihtiyaç duyulan ayırma gücü, büyütme veya analiz türlerine bağlı olarak kullanılmaktadır. Taramalı elektron mikroskopları ve farklı çalışma prensiplerine sahip mikroanaliz üniteleri ile, toz ve kütle halinde bulunan hammaddeler ile katı malzemelerin yüzey, kesit veya kırık yüzeylerinin, nanometre boyutuna kadar morfolojik incelemeleri ile malzeme yüzeyi ve kesitinde bulunan her türlü hatanın mikro mertebede kimyasal analizi, farklı bölgelerin elementel kimyasal analizleri, çizgi analizi, faz tespiti ve faz haritalaması, renkli kompozisyon görüntülemesi, kristalografik yapı analizi, tane boyutu ve tane boyut dağılımı vb. analizler yapılabilmektedir.

Geçirimli Elektron Mikroskobu

Elektron mikroskobu laboratuvarında taramalı elektron mikroskoplarının yanı sıra özel çalışmalarda kullanılan Enerji Filtreli Geçirimli Elektron Mikroskobu (EFTEM) ve Taramalı Geçirimli Elektron Mikroskobu (STEM) bulunmaktadır. EFTEM, yaklaşık olarak 100 nm' den daha az kalınlığa sahip olan numunelerden geçen elektronları filtreleyip sınıflandırırken, STEM ise tarama bobinleri ile numune yüzeyindeki elektronları tarayıp aynı zamanda geçen elektronları da toplayarak malzemelerin atomik mertebelere kadar iç yapılarını incelemek için kullanılmaktadırlar. EFTEM ve STEM' de aydınlık alan, karanlık alan, yüksek açılı karanlık alan ve yüksek ayırma güçlü geçirimli elektron mikroskobu görüntüleri ile birlikte mikro ve nano mertebede difraksiyon paternleride elde edilmektedir.

EFTEM ve STEM' de elektron enerji kaybı spektroskopisi (EELS) ve enerji saçınımlı x-ışını spektroskopisi (EDX) kullanılarak Li, B, C, O ve N (Bor-B5 ile Uranyum-U92 aralığında elementler) gibi düşük atom numarasına sahip elementlerin kimyasal analizi kantitatif olarak yüksek doğrulukta yapılabilmektedir. Ayrıca 'Drift Correction' özelliği kullanılarak inceleme yapılan bölgedeki birden çok noktanın kimyasal analizi ve elementel faz haritalaması uzun analiz zamanlarında yapılabilmekte ve yüksek ayırma gücünde kimyasal bilgiler elde edilebilmektedir. EFTEM ve STEM'de incelenecek numunelerin 100 nm' den daha az kalınlığa sahip olmaları gerekmekte ve numuneler istenen kalınlığa ulaşıncaya kadar inceltilmektedir.

Optik Mikroskop

Olympus BX 60M Optik Mikroskop yüksek büyütmelerin gerekmediği durumlarda kullanılır (1000x büyütmeye kadar) ve genel bir mikroyapı görüntüsü elde edilir. Bu mikroyapı görüntüsü ürünlerin genel tane boyut ve por dağılımı hakkında bilgi verir. Üründe kristalleşmenin, herhangi bir tabaka kalınlığının vb. diğer özelliklerin hızlı, kalitatif veya yaklaşık sayısal kontrolü gerektiği durumlarda kullanımı pratik olması nedeni ile tercih edilmektedir.

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Atomik kuvvet mikroskobu nano boyutta bir probun herhangi bir yüzey ile etkileşimi sonucu ortaya çıkan kuvvet ilişkilerinin izlendiği bir sistemdir. Genellikle iki moda sahiptir. Bunlar "temas" ve "temas olmayan" modlardır. Genel kullanım amacı, üç boyutlu yüzey görüntüsü eldesi, nanolitografya, yüzey pürüzlülüğünün tespiti, nano boyutta kalınlık ölçümü olarak sayılabilir.


**Analiz talebinde bulunursanız lütfen sayfa sonundaki "Analiz Talep ve Numune Gönderim Formu"' nu numuneleriniz ile birlikte SAM' a ulaştırınız.