ENGLISH 0222 323 82 76
Hakkımızda Hizmet Ücretleri Bültenler İletişim
 

Teknolojik Destek

Teknolojik Destek Hizmetleri

Analiz talebinde bulunursanız lütfen burayı tıklayarak indirebileceğiniz Analiz Talep ve Numune Gönderim Formunu numunelerinizle birlikte SAM' a ulaştırınız.

Nihai Ürün Testler

Seramik Karolar

TS EN ISO 10545-1 NUMUNE ALMA VE KABUL ESASLARI
TS EN ISO 10545-2 BOYUT VE YÜZEY KALİTESİ TAYİNİ
TS EN ISO 10545-3 SU EMME GÖRÜNEN GÖZENEKLİLİK, GÖRÜNEN BAĞIL YOĞUNLUK VE HACİM KÜTLESİ TAYİNİ
TS EN ISO 10545-4 EĞİLME VE KIRILMA DAYANIMI TAYİNİ
TS EN ISO 10545-5 ÇARPMA DAYANIMI TAYİNİ
TS EN ISO 10545-6 SIRSIZ KAROLARDA DERİN AŞINMA DAYANIMI TAYİNİ
TS EN ISO 10545-7 SIRLI KAROLAR YÜZEY AŞINMASINA DAYANIM TAYİNİ
TS EN ISO 10545-8 LİNEER ISIL GENLEŞME TAYİNİ
TS EN ISO 10545-9 ISI ŞOKUNA DAYANIKLILIK TAYİNİ
TS EN ISO 10545-10 RUTUBET GENLEŞMESİ TAYİNİ
TS EN ISO 10545-11 SIRLI KAROLAR SIRIN ÇATLAMAYA DAYANIMI TAYİNİ
TS EN ISO 10545-12 DONA DAYANIKLILIK TAYİNİ
TS EN ISO 10545-13 KİMYASAL MADDELERE DAYANIKLILIK TESTİ
TS EN ISO 10545-14 LEKELENMEYE DAYANIKLILIK TAYİNİ
TS EN ISO 10545-16 KÜÇÜK RENK FARKLILIKLARININ TAYİNİ
DIN 51130 KAYMAZLIK ÖZELLİKLERİNİN TAYİNİ (KAYMA RİSKİ YÜKSEK ZEMİNLER) RAMP TESTİ
TSE CEN/TS 16165 Ek B YAYA YÜZEYLERİNİN KAYMA DİRENCİ TAYİNİ – RAMP TEST
BS 7976-2 PENDULUM DENEYİ (YÜZEYİN KAYMA DİRENCİ TAYİNİ)
TS EN 13036-4 YOL VE HAVA ALANI YÜZEY KARAKTERİSTİKLERİ - DENEY YÖNTEMLERİ - BÖLÜM 4: YÜZEYİN KAYMA DİRENCİNİN ÖLÇÜLMESİ YÖNTEMİ: PENDULUM DENEYİ (LABORATUVARDA ÖLÇÜM)
ANSI/NFSI B101.3 ISLAK DİNAMİK SÜRTÜNME KATSAYISI TAYİNİ - (BOT 3000 CİHAZI İLE)
ANSI A137.1 - DİNAMİK SÜRTÜNME KATSAYISI TAYİNİ - (BOT 3000 CİHAZI İLE)

Sağlık Gereçleri

D 14-501 SIRLI YÜZEYLERİN AŞINMAYA DAYANIKLILIĞI TESTİ

Refrakterler

ASTM C 830 GÖRÜNEN POROZİTE, SIVI ABSORPSİYONU, GÖRÜNEN SPESİFİK YOĞUNLUK VE BULK YOĞUNLUK TAYİNİ (VAKUM METODU İLE)
ASTM C 357 GRANÜL HALİNDEKİ REFRAKTER MALZEMELERİN BULK YOĞUNLUK TAYİNİ
ASTM C 133 SOĞUKTA BASMA MUKAVEMETİ TAYİNİ

Fiziksel Testler

Tane Boyut Dağılımı Analizi (Lazer Tekniği ile)

Lazer difraksiyon tekniği ile hammadde, çamur ve sırların 0.2-2000 pm arası tane boyutları ölçülebilmektedir. Ölçüm sonucunda, d10, d50, d90 değerleri, hacim veya yüzey cinsinden boyut dağılım yüzde değerleri tespit edilebilmekte ve tane boyut dağılımı grafik olarak verilebilmektedir.

X-ışınları Sedigrafi Yöntemiyle Tane Boyut Dağılım Tayini

Özellikle kaolen ve kil gibi tabakalı yapıya sahip hammaddelerin hassas tane boyut ölçümü için uygun bir tekniktir. Dar ve yatay bir x-ışını tabancası kullanarak, sıvı içerisindeki partiküllerinin relative kütle konsantrasyonunu x-ışınının şiddetini ölçerek belirler. Homojen dağıtılmış katı ve sıvı karışımı ölçüm hücresine verilir. Katı partiküller bir miktar x-ışını enerjisini absorplar. X-ışını tarama yaparken karıştırma işlemi durur ve tanelerin çökmesine izin verilir. Tanelerin, viskozitesi ve yoğunluğu bilinen bir ortamda çökme hızı Stokes kanununa uyarlanarak tane partikül boyutu belirlenir. Sedigrafı ile hammadde, çamur ve sırların 0.1-300 mikrometre arası tane boyutları ölçülebilmektedir. Ölçüm sonucunda, d10, d50, d90 değerleri ile kümülatif kütle yüzde değerleri tespit edilebilmekte ve tane boyut dağılımı grafik olarak verilebilmektedir.

Spektrofotometre ile Renk Ölçümü (L-a-b)

Seramik sektöründe tasarımların sürdürülebilirliğini sağlamak amacıyla diğer teknik parametrelerin yanında renk farklılıkları da önemlidir ve kalite kontrol sürecinde kontrol edilmesi gereken bir parametredir. Spektrofotometre (Renk ölçüm cihazı) bir örnek ve birbirine uygun renk vermesi için tasarlanmış, tek renkli seramik karolar arasındaki küçük renk farklılıklarını tayin etmek / birbirleri ile karşılaştırmak için kullanılan uygun geometride ve farklı standartlara uygun çalışabilen bir cihazdır. Aynı zamanda, farklı numunelerin renk ölçümleri de yapılabilmektedir.

Ölçümler CIE tavsiyelerine mükemel uyumluluk sağlayan d/8 geometride geniş bir dalga boyu aralığında yapılabilmektedir. Farklı çapa sahip ölçüm gözleri ihtiyaca göre seçilmektedir. Mevcut spektrofotometre ile aynı anda parlaklık bileşeni dahil (SCI) ve hariç (SCE) durumları için ölçüm sonucu alınabilmekte, benzer şekilde UV dahil (UVI) ve UV- hariç (UVE) sonuçları da aynı anda görülebilmektedir. Cihaz ile yapılan ölçümlerden TS EN İSO 10548-16 standardının gerektirdiği veriler elde edilebilmektedir. Cihazın ölçüm sisteminde, L ekseni, L=100 için beyaz ve L=0 için siyah arasındaki renkleri, a ekseni -a için yeşil ile +a kırmızı arasındaki renkleri ve b ekseni ise -b için mavi ile +b için san arasındaki renkleri göstermektedir. Δe değeri ise ölçümlerin standarda göre renk farklılığını ifade eder.

Civa Porozimetresi (por miktarı ve boyutu)

Civa porozimetresi, toz veya yığınsal numunelerde por boyutu, por boyut dağılımı ve yüzey alanı ölçümleri ile kütlesel yoğunluk tayininde kullanılmaktadır. Ölçüm, civa gibi reaktif ve ıslatıcı olmayan bir sıvının, yeterli basınç uygulanmadığı takdirde ince porlara giremeyeceği prensibi üzerine kuruludur. Numune, ölçüm hücresine yerleştirildikten sonra sistem vakuma alınır ve hücreye civa doldurulur. Cihaz, uygulanan basınca karşı hücrede azalan cıva miktarını, hücre uçları arasındaki kapasitans değişiminden tayin eder. Por boyutu ise basıncın fonksiyonu olarak hesaplanır. Cihazda ölçülebilir por boyut aralığı: 0-50 psi basınç aralığında 900 - 4.26 μm, 0-1500 psi basınç aralığında 10.66 - 0.142 μm ve 0-maksimum basınç aralığında 10.66 - 0.0036 μm'dir.

BET ile Yüzey Alanı Ölçümü

BET cihazı toz veya yığınsal numunelerde yüzey alanı ölçümleri ile nano, mezo ve makro por boyutu ve por boyut dağılımı analizlerinde kullanılmaktadır. Ölçüm, katı maddelerin yüzey enerjileri nedeni ile atmosferdeki gaz moleküllerini adsorplama prensibi üzerine kuruludur. Cihaz, numune yüzeyini tek bir moleküler tabaka kaplamak için gerekli gaz miktarını tayin etmekte ve Brunauer, Emmett ve Teller (BET) teorisini kullanarak yüzey alanını hesaplamaktadır.

Profilometre ile pürüzlülük ölçümü

Özellikle düz yüzeyli numuneler için uygun olmakla birlikte belli sınırlar içinde üç boyutlu parçaların analizi yapılabilmektedir. Yüzeyde 5.6 mm'lik bir doğru boyunca 0,5 µm çaplı elmas uçla tarama yapılıp pürüzlülük profili elde edilmektedir. Temel pürüzlülük parametreleri olan Ra, Rz, Rmaks değerleri µm cinsinden ölçülebilmektedir. Fiziksel bir test olup numune yüzeyinde herhangi bir tahribat oluşturmamaktadır.

Reolojik Test ve Analizler

Zeta Potansiyeli Ölçümü

Zetasizer cihazı, kolloid ve polimer kimyasında en önemli üç parametre olan partikül boyutu, zeta potansiyeli ve moleküler ağırlık ölçümünde kullanılmaktadır. Seramik ve ilaç sektöründe çok önemli bir yer tutan kolloidlerin kararlılığı, partiküller arasındaki itme ve çekme kuvvetini belirleyen zeta potansiyeli ile yakından ilgilidir. Zetasizer cihazı, beli bir potansiyel altında haraketi sağlanan tanelerin hızını belirleyerek zeta potansiyelini hesaplamaktadır.

Reometre

Reolojik özellikler, seramik üretim sürecinde, malzemenin kullanıldığı her üretim aşamasında reçete geliştirmeden ürün kalitesinin artırılmasına kadar her alanda önem taşımaktadır. Reolojik ölçümler ile;

Kayma gerilmesi ile viskozitesi değişen akışkanların (seramik çamurlar, sırlar gibi) akış profilinin çıkarılması, üretim sürecinin ya da kullanım koşullarının simüle edilmesi,

Malzemelerin katı benzeri ya da sıvı benzeri davranışının belirlenmesine yönelik viskoelastik parmak izinin çıkarılması

Seramik dispersiyonların kararlılığının ayarlanması Boya ya da kaplamaların tiksotropisinin belirlenmesi İle ilgili analizler yapılabilmektedir.

Minerolojik Analiz

X Işınları Difraksiyonu (XRD)

X-ışınları laboratuvarında XRD (X-Işınları Kırınım Cihazı) ve HT-XRD (Yüksek Sıcaklık X-Işınları Kırınım Cihazı) olmak üzere iki farklı XRD bulunmaktadır. Bu cihazlarda farklı özellikler tespit edilebilmekle birlikte, temel işlevleri ortaktır. X-ışınları kırınım yöntemi kütle veya toz halindeki malzemelerin, kristalin malzemelerin karakterizasyonunda kullanılan temel tekniklerden biridir. Numune üzerine gönderilen dalga boyu bilinen x-ışınları farklı açılarda Bragg kanununa göre malzemedeki düzlemler tarafından kırınıma uğratılır. Bu yöntemle elde edilen paternler her bir faz için parmak izi niteliğinde olup, malzeme içerisinde bulunan fazların tayinini sağlar. XRD ile analizde, malzeme yapısı (kristalin/amorf), kristalin malzemeler için kalitatif mineralojik analiz, latis parametresinin hesaplanması, kristal yapısının belirlenmesi, nanomalzemelerde tane boyutu ölçümü belirlenebilecek özelliklerdir. Uygun paket programların kullanılmasıyla kantitatif olarak mineralojik analiz yapılabilmektedir. Bu tahribatsız analiz yöntemi malzeme bilimi, jeoloji gibi değişik alanlarda yaygın bir kullanıma sahiptir. HT-XRD cihazında farklı olarak yüksek sıcaklık XRD çekimleri yapılabilmektedir. XRF, TG-DTA veya EDX-WDX sonuçlarından XRD analizinin yorumlanmasında faydalanılabilir.

Kimyasal Analiz

X-Işınları Fluoresans (XRF) (Ateş Zaiyatı dahil)

Çok çeşitli malzemelerin kimyasal bileşimini tespit etmek, araştırma geliştirme çalışmalarında ve kalite kontrolunde veri elde etmek için kullanılır. XRF, kompleks numunelerin analizinde iyi bir performans ve esneklik sağlamaktadır. Hafif elementler kolay ve net bir şlekilde tespit edilmektedir. İncelenecek numune için standartlar elde edilemediğinde, yarı kantitatif analiz programı (SQX) kullanılmaktadır. XRF cihazı, malzemenin kimyasal bileşimi hakkında elementel, oksit ve özel bileşik olarak (Fe, Fe2O3, FeS2) bilgi verir. Kantitatif, yarı kantitatif ve standart numuneleri olması koşuluyla tam kantitatif analiz yapılabilir.

Mikro Yapı Analizi

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Mikroanaliz (EDX-WDX) ve Faz Tayini (EBSD)

Elektron mikroskobu laboratuvarında üç adet taramalı elektron mikroskobu bulunmaktadır. Bu mikroskoplar, ihtiyaç duyulan ayırma gücü, büyütme veya analiz türlerine bağlı olarak kullanılmaktadır. Taramalı elektron mikroskopları ve farklı çalışma prensiplerine sahip mikroanaliz üniteleri ile, toz ve kütle halinde bulunan hammaddeler ile katı malzemelerin yüzey, kesit veya kırık yüzeylerinin, nanometre boyutuna kadar morfolojik incelemeleri ile malzeme yüzeyi ve kesitinde bulunan her türlü hatanın mikro mertebede kimyasal analizi, farklı bölgelerin elementel kimyasal analizleri, çizgi analizi, faz tespiti ve faz haritalaması, renkli kompozisyon görüntülemesi, kristalografik yapı analizi, tane boyutu ve tane boyut dağılımı vb. analizler yapılabilmektedir.

Geçirimli Elektron Mikroskobu

Elektron mikroskobu laboratuvarında taramalı elektron mikroskoplarının yanı sıra özel çalışmalarda kullanılan Enerji Filtreli Geçirimli Elektron Mikroskobu (EFTEM) ve Taramalı Geçirimli Elektron Mikroskobu (STEM) bulunmaktadır. EFTEM, yaklaşık olarak 100 nm' den daha az kalınlığa sahip olan numunelerden geçen elektronları filtreleyip sınıflandırırken, STEM ise tarama bobinleri ile numune yüzeyindeki elektronları tarayıp aynı zamanda geçen elektronları da toplayarak malzemelerin atomik mertebelere kadar iç yapılarını incelemek için kullanılmaktadırlar. EFTEM ve STEM' de aydınlık alan, karanlık alan, yüksek açılı karanlık alan ve yüksek ayırma güçlü geçirimli elektron mikroskobu görüntüleri ile birlikte mikro ve nano mertebede difraksiyon paternleride elde edilmektedir.

EFTEM ve STEM' de elektron enerji kaybı spektroskopisi (EELS) ve enerji saçınımlı x-ışını spektroskopisi (EDX) kullanılarak Li, B, C, O ve N (Bor-B5 ile Uranyum-U92 aralığında elementler) gibi düşük atom numarasına sahip elementlerin kimyasal analizi kantitatif olarak yüksek doğrulukta yapılabilmektedir. Ayrıca 'Drift Correction' özelliği kullanılarak inceleme yapılan bölgedeki birden çok noktanın kimyasal analizi ve elementel faz haritalaması uzun analiz zamanlarında yapılabilmekte ve yüksek ayırma gücünde kimyasal bilgiler elde edilebilmektedir. EFTEM ve STEM'de incelenecek numunelerin 100 nm' den daha az kalınlığa sahip olmaları gerekmekte ve numuneler istenen kalınlığa ulaşıncaya kadar inceltilmektedir.

Optik Mikroskop

Olympus BX 60M Optik Mikroskop yüksek büyütmelerin gerekmediği durumlarda kullanılır (1000x büyütmeye kadar) ve genel bir mikroyapı görüntüsü elde edilir. Bu mikroyapı görüntüsü ürünlerin genel tane boyut ve por dağılımı hakkında bilgi verir. Üründe kristalleşmenin, herhangi bir tabaka kalınlığının vb. diğer özelliklerin hızlı, kalitatif veya yaklaşık sayısal kontrolü gerektiği durumlarda kullanımı pratik olması nedeni ile tercih edilmektedir.

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)

Atomik kuvvet mikroskobu nano boyutta bir probun herhangi bir yüzey ile etkileşimi sonucu ortaya çıkan kuvvet ilişkilerinin izlendiği bir sistemdir. Genellikle iki moda sahiptir. Bunlar "temas" ve "temas olmayan" modlardır. Genel kullanım amacı, üç boyutlu yüzey görüntüsü eldesi, nanolitografya, yüzey pürüzlülüğünün tespiti, nano boyutta kalınlık ölçümü olarak sayılabilir.

Termal Analizler

Simültane Termal Analiz (TG-DTA/TG-DSC/TG)

Simültane termal analiz ünitesi (TG-DTA / TG-DSC / TG): Simultaneous thermal analysis unit (TG-DTA / TG-DSC / TG): Simültane termal analiz iki veya daha fazla termal analiz tekniğinin aynı anda tek bir numune üzerine uygulanmasıdır. Cihaz ile, kütle değişimi, dekompozisyon, termal kararlılık, oksidasyon, dönüşüm entalpisi, spesifik ısı (Cp), faz geçiş sıcaklıkları, cam geçiş sıcaklığı, kristalizasyon davranışları, faz diyagramları vb. analizler yapılabilmektedir. Sistem oda sıcaklığı ile maksimum 1500°C sıcaklık aralığında 0-40°C/dk ısıtma/soğutma hızı ile ölçümler yapabilmektedir. İnert ya da oksitleyici (vakum altında) atmosferde ölçümler yapılabilmektedir.

Termal Difüzivite & Termal İletkenlik

Cihaz, malzemelerin 0.001-10cm2/s aralığındaki termal difüzivitesinin (geçirgenliğinin) belirlenmesi için ASTM E—1461, DIN EN 821'e uygun olan Mikroflaş Lazer Flaş cihazıdır.

Cihaz ile aynı zamanda STA cihazından alınan spesifik ısı (Cp) değeri kullanılarak 0.1-2000 W/m.K aralığında termal iletkenlik belirlenebilir.

Cihaz oda sıcaklığı ile maksimum 1100°C sıcaklık aralığında kullanılabilir ve numune değiştiricilidir (aynı anda 3 numunenin ölçümüne olanak sağlayan). İnert, oksitleyici atmosferde ya da vakum altında (10-2 mbar) ölçümler yapılabilmektedir. Flaş kaynağı olarak 1064nm dalga boyuna sahip ND:GGG lazer kullanılmakta ve numunenin sıcaklık değişimi sıvı azot soğumalı InSb detektör ile yapılmaktadır.

Isıl Genleşme Katsayısı Tayini (Dilatometre)

Dilatometre cihazları, ihmal edilebilir yük altında ve kontrollü sıcaklık programına tabi tutulan bir malzemenin boyutsal değişimlerinin sıcaklığın fonksiyonu olarak ölçümünde kullanılır.

Ölçümler sonucunda; numunenin termal genleşme katsayısı, hacimsel genleşme, faz dönüşümleri, cam geçiş sıcaklığı ve yumuşama noktası tespit edilebilir. Bilgisiyar kontrollü sistem, yatay konumda oda sıcaklığı ile 1100°C sıcaklık aralığında 5-10°C/dk ısıtma/soğutma hızı ile ölçümler yapabilmekte fırın sıcaklığı 1200°C'ye kadar çıkabilmektedir.

Sistem, 5000 mikrona kadar olan uzunluk değişimlerini ölçebilmektedir.

Cihazın ergimiş silika ve alümina olmak üzere değiştirilebilir iki farklı numune tutucusu (max. kullanım sıcaklığı 1100°C) mevcuttur. Oksidatif yada inert atmosferde ölçümler yapılabilmektedir.

Optik Dilatometre ile Sinterleme Analizi / Isı Mikroskobu ile Ergime Davranışı Tayini

Optik dilatometre ile ısıtma sürecinde çekme, genleşme gibi numunenin boyutsal değişimi herhangi bir kuvvet uygulanmadan ölçülmektedir ve endüstriyel fırın rejimi cihaz fırınına adapte edilebilmektedir.

Seramik bünyelerin pişme periyodu esnasında, sinterleşme davranışlarının incelenmesi ve dönüşüm sıcaklıklarının belirlenmesi mümkündür. Numune boyutu maksimum 15x5x5 mm boyutunda olması gerekir.

Isı mikroskobu ile ısıtma süresince, bir veya aynı anda iki numunenin sinterleme, yumuşama, küre, yarı küre ve ergime sıcaklıkları gibi karakteristik sıcaklıkları atomatik olarak belirlenmektedir. Aynı zamanda ısı mikroskobu olarak da kullanılabilen optik dilatometre cihazı ile frit, sır ve cam seramikler de dahil olmak üzere her türlü seramik bünyenin termal davranışlarını incelemek mümkündür.

Isı mikroskobu analizi için 20-30 g kuru malzeme gerekmektedir.

Oda sıcaklığı ile maksimum 1600°C sıcaklık aralığında, maks. 80 K/dk. ısıtma/soğutma hızı ile analiz yapılabilmektedir.